Service DRX

Carine CHASSIGNEUX Responsable service de diffraction des rayons-X Bâtiment MADIREL, RdC, bureau 02 Tél  : (+33) (0)4 13 55 18 14 Fax : (+33) (0)4 13 55 18 50 Courriel : carine.chassigneux[@]univ-amu.fr

Matériel : Diffractomètre SIEMENS D5000, équipé de l’accessoire incidence rasante

Prestations extérieures :

Le service de Rayons X réalise des analyses sur demande.

Tarif (avec interprétation des résultats) : 100 euros par heure

Deux modes d’analyse

1- Identification de phases cristallines par la méthode des poudres - Configuration Bragg-Brentano

La diffraction des rayons X permet d’identifier les phases cristallines présentes dans un échantillon, c’est-à-dire de savoir comment la matière est organisée.

Les analyses sont essentiellement utiles sur la matière cristallisée et doivent être associé à une analyse élémentaire si la composition chimique de l’échantillon n’est pas connue.

2- Etude structurale d’échantillons en couches minces ou multicouches - Incidence rasante 

Dans le cas de la diffractométrie conventionnelle la profondeur de pénétration des rayons X est comprise entre le micromètre et le millimètre, et les informations obtenues concernent la structure cristalline dans le volume de l’échantillon.

La profondeur de pénétration des rayons X étant fonction de l’angle d’incidence des rayons X, quand celui-ci diminue l’information totale reçue par le détecteur est moindre, mais la contribution provenant de la surface est proportionnellement plus importante.  

En incidence rasante, l’angle d’incidence entre le faisceau de rayons X et la surface de l’échantillon est fixe et petit, ce qui permet l’analyse de couches minces et de multicouches.